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Biele­feld In­sti­tute for Bio­physics and Nanoscience - Meth­odes of Analy­sis

image of the lab building XPhy
© Uni­ver­sität Biele­feld / André Wirsig

In­tro­duc­tion

The work­ing groups in­volved in BINAS use state-​of-the-art equip­ment and tech­nol­ogy to pre­pare and analyse ma­te­ri­als in the nanome­ter and mi­crom­e­ter range. In co-​operation with in­dus­try, we make our ex­pe­ri­ence and tech­nol­ogy in ma­te­r­ial pro­duc­tion and analy­sis avail­able.

Prepa­ra­tion

  • Ultra-​high vac­uum elec­tron beam evap­o­ra­tion
  • Metal or­ganic vapour phase de­po­si­tion (MOCVD)
  • Nanome­ter and mi­crom­e­ter lat­eral struc­tur­ing
  • Chem­i­cal vapour de­po­si­tion (CVD)
  • Phys­i­cal vapour de­po­si­tion (PVD)
  • Lith­o­g­ra­phy in nanome­ter and mi­crom­e­ter struc­tures, laser and elec­tron beam writ­ing and re­ac­tive ion etch­ing (RIE)
  • Or­ganic and in­or­ganic (metal­lic and oxide) mono- and mul­ti­lay­ers in the nm range
  • Lang­muir film bal­ance

Mi­croscopy

image of a Zeiss Orion Plus Helium ion microscope in Bielefeld
© Uni­ver­sität Biele­feld
  • Light mi­croscopy (dark and bright field, phase con­trast)
  • Con­fo­cal laser scan­ning mi­cro­scope (LSM)
  • High-​resolution flu­o­res­cence mi­croscopy (FM, dStorm)
  • 3D struc­tured il­lu­mi­na­tion mi­croscopy (3D-​SIM)
  • Trans­mis­sion elec­tron mi­croscopy (TEM)
  • Scan­ning elec­tron mi­croscopy (SEM) with EDX
  • Pho­toe­mis­sion elec­tron mi­croscopy (PEEM)
  • He­lium ion mi­croscopy (HIM)
  • Scan­ning probe mi­croscopy and force spec­troscopy (AFM, STM, MFM) in air, in liq­uids and in ultra-​high vac­uum (UHV)
  • Scan­ning near-​field op­ti­cal mi­croscopy (SNOM)

Spec­troscopy

image of OMICRON Multiprobe system in Bielefeld
© Uni­ver­sität Biele­feld
  • Sec­ondary ion mass spec­troscopy (SIMS)
  • UV pho­to­elec­tron spec­troscopy (UPS)
  • X-ray pho­to­elec­tron spec­troscopy (XPS)
  • Raman spec­troscopy
  • Tran­sient ab­sorp­tion spec­troscopy with ns time res­o­lu­tion and op­ti­cal co­in­ci­dence analy­ses
  • Time-​resolved flu­o­res­cence spec­troscopy with pi­cosec­ond time res­o­lu­tion

Fur­ther meth­ods of analy­sis

  • X-ray dif­frac­tion (small-​angle and large-​angle dif­frac­tion)
  • X-ray re­flec­tiv­ity
  • El­lip­som­e­try
  • Con­tact angle mea­sure­ments
  • Al­ter­nat­ing gra­di­ent mag­ne­tome­ter
  • Elec­tri­cal and magneto-​transport mea­sure­ments, mag­ne­tom­e­try
  • Magneto-​optical Kerr ef­fect
  • High-​pressure liq­uid chro­matog­ra­phy (HPLC)
  • Elec­trophore­sis
  • Op­ti­cal tweez­ers (OT) in sin­gle and mul­ti­ple beams
  • Cap­il­lary elec­trophore­sis in mi­crochips (In­te­grated CE)
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image of a Zeiss Orion Plus Helium ion microscope in Bielefeld
© Universität Bielefeld
image of OMICRON Multiprobe system in Bielefeld
© Universität Bielefeld

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